本發(fā)明公開了一種子模塊旁路開關(guān)合閘和彈跳時間測試裝置、方法及介質(zhì),裝置包括供能模塊、電壓檢測模塊以及控制模塊;供能模塊與柔性直流換流閥子模塊電容并聯(lián)連接,電壓檢測模塊與柔性直流換流閥子模塊交流端口并聯(lián)連接,控制模塊與柔性直流換流閥子模塊通信接口連接。本發(fā)明在子模塊旁路開關(guān)封裝在子模塊內(nèi)部以后,不需要破壞子模塊封裝結(jié)構(gòu),不需要拔出旁路開關(guān)控制端子接線,不增加試驗用電壓源、電壓采樣探頭和示波器等多個輔助設(shè)備,采用單個測試裝置,實現(xiàn)對工程現(xiàn)場子模塊中旁路開關(guān)的合閘和彈跳時間無損測試。
聲明:
“子模塊旁路開關(guān)合閘和彈跳時間測試裝置、方法及介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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