本發(fā)明適用于無損檢測(cè)領(lǐng)域,提供一種漏磁探頭測(cè)試臺(tái),包括底板、支板,每塊支板上固定有一個(gè)線圈盤,兩個(gè)線圈盤上繞有匝數(shù)相同的線圈,兩塊支板之間設(shè)置有連接塊,所述連接塊內(nèi)安裝有距離記錄裝置,所述漏磁探頭測(cè)試臺(tái)還包括用于裝載漏磁探頭陣列的裝載條,所述裝載條的寬度與兩塊支板間距相適應(yīng),且兩塊支板間距等于線圈半徑。本測(cè)試臺(tái)設(shè)置了兩個(gè)相同的線圈盤,且線圈盤內(nèi)的線圈匝數(shù)相同,將漏磁探頭陣列安裝在裝載條上,通過一致性的測(cè)量并記錄各漏磁探頭的多個(gè)性能參數(shù),提高漏磁
檢測(cè)儀的定量準(zhǔn)確性、一致性。
聲明:
“漏磁探頭測(cè)試臺(tái)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)