本發(fā)明公開了一種多維度正電子湮沒壽命譜和多普勒展寬譜測量系統(tǒng),多維度正電子湮沒壽命譜測量系統(tǒng)和多普勒展寬譜測量系統(tǒng)中均包括反符合系統(tǒng)和三維移動系統(tǒng)。所述的反符合系統(tǒng)包括依次相連的正電子探測器、第一前置放大器、第一譜放大器、第一單道分析器、符合器;正電子探測器由閃爍片和光電倍增管通過硅油耦合組成,放射源為同位素放射源,其直接滴于閃爍片上。所述的三維移動系統(tǒng)用來裝載樣品并使樣品在三維方向移動。本發(fā)明采用反符合系統(tǒng)實現(xiàn)非樣品中湮沒信息的排除,可提高探測的可靠性和探測精度;采用三維移動平臺調整樣品與正電子探測器間的距離和方位,可實現(xiàn)單塊不規(guī)則樣品多維度缺陷的精確無損檢測。
聲明:
“多維度正電子湮沒壽命譜和多普勒展寬譜測量系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)