本發(fā)明涉及一種基于超聲波的物體測(cè)厚方法、裝置、系統(tǒng)、設(shè)備及介質(zhì),其包括獲取超聲波在目標(biāo)被測(cè)物中傳播后的一次回波時(shí)間和二次回波時(shí)間,所述目標(biāo)被測(cè)物為目標(biāo)被測(cè)材料覆有覆蓋物的被測(cè)物或目標(biāo)被測(cè)材料未覆有覆蓋物的被測(cè)物;根據(jù)所述一次回波時(shí)間和二次回波時(shí)間的時(shí)間差,以及預(yù)設(shè)的超聲波在目標(biāo)被測(cè)材料中的傳播速度,確定所述目標(biāo)被測(cè)材料的厚度。本發(fā)明能夠消除涂層影響,準(zhǔn)確測(cè)量物體厚度,真正做到無(wú)損檢測(cè)。
聲明:
“基于超聲波的物體測(cè)厚方法、裝置、系統(tǒng)、設(shè)備及介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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