本發(fā)明公開了一種基于SiPLS的近紅外光譜法測定大米中水分含量的方法，包括：采用X?Y殘差分析法對異常樣本進(jìn)行了剔除，運(yùn)用經(jīng)典Kennard?Stone法對校正集及預(yù)測集樣本進(jìn)行了選取，利用二階導(dǎo)數(shù)對近紅外光譜進(jìn)行了預(yù)處理優(yōu)化，采用SiPLS法將光譜劃分為25個(gè)子區(qū)間，利用其中的第3、9、18、20號(hào)4個(gè)子區(qū)間聯(lián)合建立了大米中水分模型，校正集決定系數(shù)為0.9573，校正集均方根誤差為0.3886。利用40個(gè)驗(yàn)證集樣品對定標(biāo)模型進(jìn)行了驗(yàn)證，預(yù)測相關(guān)系數(shù)達(dá)0.9625，平均預(yù)測回收率為100.27％，說明模型具有良好的預(yù)測能力。相較于全譜建模，采用SiPLS法建立的模型不僅精簡，還提高了模型的預(yù)測精度。本發(fā)明的方法作為一種準(zhǔn)確、無損、環(huán)保的檢測手段，能夠用于大米中水分含量的快速測定。