本發(fā)明提供了一種存儲(chǔ)芯片的測(cè)試裝置及方法，涉及手機(jī)存儲(chǔ)技術(shù)領(lǐng)域。該測(cè)試裝置包括：測(cè)試主板，所述測(cè)試主板上設(shè)置有中央處理器CPU、可編程邏輯器件FPGA、插座SOCKET夾具以及至少一個(gè)存儲(chǔ)芯片eMMC顆粒；所述eMMC顆粒放置于所述SOCKET夾具中，所述FPGA通過(guò)一個(gè)通路與一個(gè)eMMC顆粒連接。本發(fā)明的方案實(shí)現(xiàn)eMMC顆粒的批量無(wú)損檢測(cè)，提升測(cè)試驗(yàn)證效率，通過(guò)FPGA將CPU及eMMC顆粒之間的DATA和CLK信號(hào)進(jìn)行傳輸與緩存，并在時(shí)序上進(jìn)行相位移動(dòng)處理，分別記錄異常狀態(tài)下建立時(shí)間和保持時(shí)間的時(shí)序邊界，獲取eMMC顆粒的數(shù)字化的時(shí)序裕量窗口信號(hào)，代替了傳統(tǒng)的示波器UT測(cè)試。