本發(fā)明提供了一種基于超聲層析成像的應(yīng)力場(chǎng)測(cè)量方法，屬于超聲波無損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括步驟：標(biāo)定試驗(yàn)；確定投影系數(shù)矩陣；零應(yīng)力基準(zhǔn)采集，依次激發(fā)超聲換能器陣列中的每個(gè)超聲換能器，獲得零波形數(shù)據(jù)集；測(cè)量數(shù)據(jù)采集，按照零應(yīng)力基準(zhǔn)采集的激發(fā)順序依次激發(fā)超聲換能器陣列中的每個(gè)超聲換能器，獲得測(cè)試波形數(shù)據(jù)集；延時(shí)計(jì)算，使用互相關(guān)算法求解得到對(duì)應(yīng)的應(yīng)力時(shí)延向量；求解應(yīng)力場(chǎng)方程，使用層析成像算法求解應(yīng)力場(chǎng)方程得到應(yīng)力向量；根據(jù)應(yīng)力向量繪制應(yīng)力場(chǎng)圖像。本發(fā)明基于超聲層析算法，通過構(gòu)建探頭掃描矩陣，實(shí)現(xiàn)了無需移動(dòng)探頭，單次測(cè)量即可得到工件淺表面應(yīng)力場(chǎng)分布，降低了對(duì)操作人員的要求，提高了測(cè)量效率。