本發(fā)明涉及一種表征噴丸殘余應(yīng)力均一性的云圖測量法,利用X射線衍射殘余應(yīng)力測量衍射技術(shù),用小直徑0.5mm的準(zhǔn)直管控制光斑面積,在樣品有效噴丸區(qū)內(nèi)選擇一面積為10*10mm正方形區(qū)域按1mm的間隔,對縱橫兩個(gè)方向進(jìn)行應(yīng)力云圖測量,獲取100個(gè)點(diǎn)的應(yīng)力測量數(shù)據(jù),分別求取殘余應(yīng)力平均值、方差及標(biāo)準(zhǔn)差,用標(biāo)準(zhǔn)差與平均應(yīng)力值的比值作為表征表層殘余應(yīng)力均一性的指標(biāo)。本發(fā)明屬于一種無損檢測技術(shù),不需要破壞工件,對于同一種材料一旦建立起均一性表征指標(biāo),可對于相同的金屬材料,不同噴丸工藝條件下表層殘余應(yīng)力均一性進(jìn)行評價(jià),測量精度高,可以廣泛應(yīng)用于金屬件噴丸層均一性評估。
聲明:
“表征噴丸殘余應(yīng)力均一性的云圖測量法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)