一種微帶測試納米薄膜微波電磁參數(shù)裝置,涉及材料電磁參數(shù)的檢測。設(shè)有微帶夾具、微波矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、GPIB數(shù)據(jù)采集卡、計算機(jī);微帶夾具由L型底座、上導(dǎo)帶、可調(diào)短路片、SMA連接頭、屏蔽罩和固定平臺構(gòu)成;L型底座一端設(shè)圓孔,另一端設(shè)臺階;可調(diào)短路片兩端開槽;SMA連接頭安裝于L型底座上,SMA連接頭與微波矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的同軸電纜連接,被測納米薄膜樣品放置位置為輸入端與可調(diào)短路片的中心位置;微帶夾具鎖定在固定平臺上,固定平臺的四角裝有高度可調(diào)的支撐桿,固定平臺面上均勻刻上標(biāo)有刻度的一組水平線,在固定平臺上鎖定兩片彈簧卡片,兩片彈簧卡片分別放置在微帶夾具的終端與側(cè)面。測量精確、無損傷、操作簡便。
聲明:
“微帶測試納米薄膜微波電磁參數(shù)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)