本實用新型提出了一種實現(xiàn)薄膜厚度精確測量的裝置,包括邁克爾遜干涉儀、圖像傳感器CCD、數(shù)據(jù)采集模塊、硬件和驅(qū)動電路;邁克爾遜干涉儀用于產(chǎn)生干涉條紋,且邁克爾遜干涉儀上設(shè)有點光源;CCD用于記錄邁克爾遜干涉儀產(chǎn)生的干涉條紋,且CCD與數(shù)據(jù)采集模塊電性連接;數(shù)據(jù)采集模塊設(shè)有計數(shù)器,計數(shù)器用于對干涉條紋進行計數(shù),且計數(shù)器將計數(shù)結(jié)果輸送至硬件;硬件與數(shù)據(jù)采集模塊電性連接,且硬件內(nèi)設(shè)有數(shù)據(jù)處理及輸出模塊,且數(shù)據(jù)處理及輸出模塊將硬件內(nèi)的信息進行處理并輸出;驅(qū)動電路與CCD電性連接。本實用新型具有快速、準(zhǔn)確、無損傷和測量范圍大等優(yōu)點,可應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)的在線檢測,在納米技術(shù)的基礎(chǔ)性研究中也有一定的應(yīng)用價值。
聲明:
“實現(xiàn)薄膜厚度精確測量的裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)