本發(fā)明提供一種利用電磁倏逝波的相位變化測(cè)量介質(zhì)損耗的方法，其包括步驟：1）在預(yù)先給定頻率的電磁波內(nèi)確定待測(cè)介質(zhì)折射率的實(shí)部，并把該待測(cè)介質(zhì)定義為光疏介質(zhì)；2）尋找一個(gè)折射率已知并且折射率實(shí)部大于待測(cè)介質(zhì)的折射率實(shí)部的光密介質(zhì)，并把光密介質(zhì)和待測(cè)介質(zhì)構(gòu)成全反射系統(tǒng)；3）用預(yù)先給定頻率的電磁波從光密介質(zhì)向待測(cè)介質(zhì)入射，并調(diào)節(jié)入射角度，使電磁波在光密介質(zhì)和待測(cè)介質(zhì)的界面處發(fā)生全反射，并在待測(cè)介質(zhì)內(nèi)部產(chǎn)生倏逝波；4）在待測(cè)介質(zhì)中選擇一個(gè)測(cè)量點(diǎn)，測(cè)量倏逝波相位的變化；并根據(jù)倏逝波相位的變化來(lái)計(jì)算待測(cè)介質(zhì)折射率的虛部。該測(cè)量方法不僅能無(wú)損反復(fù)進(jìn)行，還可實(shí)現(xiàn)超高精度的測(cè)量。