本申請公開了一種斷裂帶的活動監(jiān)測方法、勘探方法和裝置。依據(jù)監(jiān)測精度在預(yù)測量的目標(biāo)地域設(shè)定多個監(jiān)測點(diǎn),對各個監(jiān)測點(diǎn)處地表面溢出的帶電粒子進(jìn)行監(jiān)測,并輸出與帶電粒子的特性相關(guān)的測量數(shù)據(jù),分析測量數(shù)據(jù),繪制出斷裂帶分布示意圖。由于創(chuàng)新的提出監(jiān)測地下溢出地表面的帶電粒子的特性,進(jìn)行斷裂帶分布的勘測和斷裂帶活動監(jiān)測,在提高斷裂帶的勘探精度的同時也實現(xiàn)了無損勘探。不僅可以在野外和城市內(nèi)進(jìn)行斷裂帶的勘測,還能實現(xiàn)對已知斷裂帶的活動進(jìn)行監(jiān)測。
聲明:
“斷裂帶的活動監(jiān)測方法、勘探方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)