本發(fā)明涉及一種用于測(cè)量薄膜材料相變溫度的裝置,包括襯底、電極、紅外溫度探測(cè)器、激光光源、多普勒探測(cè)器、飛秒脈沖激光光源;襯底用于鋪設(shè)待測(cè)薄膜,電極置于待測(cè)薄膜上,紅外溫度探測(cè)器監(jiān)測(cè)待測(cè)薄膜的溫度;激光光源向待測(cè)薄膜表面斜射探測(cè)光,飛秒脈沖激光光源向同一入射點(diǎn)垂直射入飛秒激光脈沖,從而在薄膜內(nèi)產(chǎn)生聲波,使探測(cè)光在待測(cè)薄膜表面的反射光引起多普勒頻移,多普勒探測(cè)器用于探測(cè)該反射光的多普勒頻移信號(hào)。本發(fā)明測(cè)量裝置及方法利用飛秒激光誘導(dǎo)薄膜產(chǎn)生聲波,利用薄膜晶態(tài)和非晶態(tài)之間折射率的差異,反應(yīng)聲波在一定厚度薄膜內(nèi)傳播一個(gè)來(lái)回的時(shí)間差異,通過(guò)多普勒探測(cè)器探測(cè)反射光的多普勒頻移信號(hào),具有快速、無(wú)損測(cè)量的優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“用于測(cè)量薄膜材料相變溫度的裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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