本發(fā)明公開了一種非接觸法測(cè)量透鏡中心厚的裝置,包括激光干涉儀以及位于所述激光干涉儀正上方的分光鏡,所述激光干涉儀中設(shè)有CCD探測(cè)器,所述分光鏡呈45°角設(shè)置,所述激光干涉儀發(fā)射出來的準(zhǔn)直光經(jīng)過所述分光鏡后一束經(jīng)過轉(zhuǎn)向裝置進(jìn)入上部標(biāo)準(zhǔn)鏡頭,一束直接進(jìn)入下部標(biāo)準(zhǔn)鏡頭,所述分光鏡與所述上部標(biāo)準(zhǔn)鏡頭和下部標(biāo)準(zhǔn)鏡頭之間均設(shè)有遮光板,還包括用于放置待測(cè)透鏡的調(diào)整平臺(tái)和距離測(cè)量平臺(tái),所述調(diào)整平臺(tái)位于所述上部標(biāo)準(zhǔn)鏡頭和下部標(biāo)準(zhǔn)鏡頭之間。本發(fā)明還公開了采用上述裝置測(cè)量透鏡中心厚度的方法。本發(fā)明非接觸法測(cè)量透鏡中心厚的方法不僅實(shí)現(xiàn)了非接觸測(cè)量,對(duì)透鏡無損傷,而且測(cè)量范圍大,測(cè)量精度高,測(cè)量精度能達(dá)到1~2um。
聲明:
“非接觸法測(cè)量透鏡中心厚的裝置和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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