本實用新型公開了一種微波器件測試用扭環(huán),涉及半導(dǎo)體器件測試技術(shù)領(lǐng)域。扭環(huán)外環(huán)壁的橫截面為圓形,扭環(huán)內(nèi)環(huán)壁的橫截面為六邊形,且與微波器件測試夾具輸入、輸出的同軸接頭端子外形尺寸相適配,所述扭環(huán)的材質(zhì)為聚四氟乙烯材料。本實用新型采用了帶有網(wǎng)紋結(jié)構(gòu)的聚四氟乙烯扭環(huán),成功解決了測試夾具在測試過程中存在的連接不緊密的問題,保證器件測試穩(wěn)定性、準確性及無損性,其制作成本低,易實現(xiàn),保證了相關(guān)科研生產(chǎn)順利進行。
聲明:
“微波器件測試用扭環(huán)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)