本發(fā)明公開了一種提高光頻域反射儀的最大測試距離的方法,包括可調(diào)諧掃描激光器、第一耦合器、觸發(fā)干涉儀、測量干涉儀、數(shù)據(jù)采集卡以及電腦。可調(diào)諧掃描激光器的光源通過第一耦合器后,一部分光依次進入觸發(fā)干涉儀的第二耦合器、第三耦合器、產(chǎn)生相位差的器件和第一光電探測器,另一部分光進入測量干涉儀的第四耦合器;經(jīng)第四耦合器后出射的一部分光直接到達第二光電探測器,另一部分光進入光環(huán)形器后再到達待測器件,由待測器件反射回來的光通過光環(huán)形器后到達第二光電探測器。本發(fā)明的方法具有無損、高精度快速測量等優(yōu)點,其測量結(jié)果更加精確,測量方法更加便利。
聲明:
“提高光頻域反射儀的最大測試距離的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)