本實(shí)用新型具體公開了一種測(cè)試電路板,應(yīng)用于被動(dòng)元器件,包括基板和導(dǎo)電接觸件,基板包括相對(duì)設(shè)置的基板正面和基板背面,基板正面設(shè)置有用于與測(cè)試接頭連接的焊盤和測(cè)試電路,焊盤和測(cè)試電路電連接,導(dǎo)電接觸件和測(cè)試電路對(duì)應(yīng)接觸連接。本實(shí)用新型將待測(cè)的被動(dòng)元器件放置到導(dǎo)電接觸件上,被動(dòng)元器件的引腳與導(dǎo)電接觸件保持緊密連接,導(dǎo)電接觸件與基板上的測(cè)試電路保持緊密連接,通過測(cè)試接頭連接相關(guān)的監(jiān)測(cè)設(shè)備后可對(duì)被動(dòng)元器件進(jìn)行測(cè)試,能夠?qū)崿F(xiàn)被動(dòng)元器件測(cè)試時(shí)無損傷、接觸良好、不短路和操作可靠,從而保證了測(cè)試精度和測(cè)試結(jié)果,測(cè)試省時(shí)省力。
聲明:
“測(cè)試電路板” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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