本實(shí)用新型提供一種光學(xué)材料折射率的精密測(cè)量裝置,有透射型和反射型兩類,透射型的測(cè)量裝置包括寬光譜光源、第一分光鏡、光功率計(jì)、被測(cè)樣品、第二分光鏡、零度入射角校準(zhǔn)裝置、透鏡、光譜儀、位移裝置和數(shù)據(jù)采集卡;反射型的測(cè)量裝置包括寬光譜光源、第一分光鏡、光功率計(jì)、第一拋物面反射鏡、被測(cè)樣品、第二分光鏡、第三分光鏡、零度入射角校準(zhǔn)裝置、第二拋物面反射鏡、光譜儀、位移裝置和數(shù)據(jù)采集卡。本實(shí)用新型操作簡(jiǎn)單,不需要調(diào)整光路,不需要將光學(xué)材料加工為特殊的形狀,實(shí)現(xiàn)了無(wú)損測(cè)量。
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“光學(xué)材料折射率的精密測(cè)量裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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