本發(fā)明提供了一種基于表面圖像灰度信息測(cè)量C/SiC
復(fù)合材料加工表面粗糙度的方法。該方法通過(guò)采集C/SiC復(fù)合材料加工表面的圖像并提取灰度信息來(lái)進(jìn)行粗糙度測(cè)量。關(guān)鍵是圖像的處理和灰度信息與粗糙度關(guān)系的建立。本發(fā)明利用matlab進(jìn)行圖像的灰度化、局部灰度值修正和灰度信息的提取,通過(guò)多個(gè)試樣的灰度信息和粗糙度數(shù)據(jù)建立灰度與粗糙度的關(guān)系。該方法的優(yōu)點(diǎn)是非接觸、無(wú)損傷,同時(shí)解決了C/SiC材料表面由于存在孔隙而導(dǎo)致的粗糙度難以測(cè)量的問(wèn)題。
聲明:
“基于圖像灰度信息測(cè)量C/SiC復(fù)合材料加工表面粗糙度的方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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