本發(fā)明涉及一種測量高壓下多晶體的單晶彈性性質的系統(tǒng)及方法，系統(tǒng)包括飛秒激光器和偏振分束晶體，飛秒激光器發(fā)出的脈沖光源經過偏振分束晶體后分為激發(fā)光和探測光；還包括聲光調制器、倍頻器、光學延遲模塊和高壓樣品組裝模塊；所述激發(fā)光通過聲光調制器和倍頻器的調制后到達樣品組裝模塊的樣品腔內，能量被多晶樣品表面的金屬薄膜吸收，激發(fā)出超聲波，超聲波在多晶樣品中傳播；所述探測光被導入光學延遲模塊，然后被導入到樣品前的主光軸，與激發(fā)光一起聚焦于多晶樣品內部；還包括光電探測器、鎖相放大器、高速采集卡和計算機，通過實時跟蹤測量經聲波散射的探測光，獲知樣品中聲速的分布，從而推導出其單晶彈性常數(shù)。本發(fā)明具有全光學測量、無損、高壓強、高精度、實驗耗時短等特點，是目前測量超高壓下多晶樣品單晶彈性性質的優(yōu)選方案。
聲明：
“測量高壓下多晶體的單晶彈性性質的系統(tǒng)及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業(yè)用途，請聯(lián)系該技術所有人。
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編輯：管理員
來源：中冶有色技術網
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2025年03月25日 ~ 27日 
