本實用新型涉及微波器件測試工具技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及微波器件測試用輔助保護裝置。包括固定底板、下夾持座和上夾持機構(gòu),所述下夾持座一體式設(shè)置于固定底板頂部,在下夾持座的頂部設(shè)有第一器件凹槽和緊固盲孔,第一器件凹槽的兩側(cè)設(shè)有端子槽,在上夾持機構(gòu)的底部設(shè)有第二器件凹槽,第二器件凹槽的兩側(cè)設(shè)有壓塊,在上夾持機構(gòu)內(nèi)設(shè)有豎直貫穿上夾持機構(gòu)的緊固通孔,在上夾持機構(gòu)的底面除去第二器件凹槽、壓塊和緊固通孔以外的部位設(shè)有第一緩沖墊層,在第二器件凹槽的槽底設(shè)有第二緩沖墊層,上夾持機構(gòu)蓋合在下夾持座上。本實用新型可以使微波器件在測試過程中與微帶線始終保持壓緊狀態(tài),保證微波器件測試的穩(wěn)定性、準確性和無損性。
聲明:
“微波器件測試用輔助保護裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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