本實(shí)用新型提供了一種用于單層電容的測(cè)試夾具,有效的解決了現(xiàn)有的夾具會(huì)對(duì)電容電極造成損傷和測(cè)試效率較低等問(wèn)題,實(shí)現(xiàn)了對(duì)單層電容的無(wú)損測(cè)試及老化,簡(jiǎn)化了對(duì)單層電容在測(cè)試及老化環(huán)節(jié)的取放操作,提高了生產(chǎn)效率的提高,降低了設(shè)備成本,包括兩個(gè)相互平行設(shè)置的電極板,其特征在于:所述電極板之間分別對(duì)應(yīng)設(shè)置有探針,所述探針上下配合夾持單層電容,所述探針的探針端頭的平面觸點(diǎn)面積大于單層電容的電極面積。
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“用于單層電容的測(cè)試夾具” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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