本發(fā)明涉及一種高反射物體表面三維測(cè)量方法,包括下列步驟:1)借助于雙投影儀和相機(jī)獲取物點(diǎn)坐標(biāo)和法線信息:使用雙投影儀分時(shí)向白色平板投射編碼相移條紋,由相機(jī)獲取經(jīng)被測(cè)物體表面反射的白色平板上的相移條紋;借助于白色平板位置改變,獲取入射光線所在的入射光平面;使用雙投影儀獲得的兩個(gè)入射光平面,并由入射光平面求交獲得入射光線信息;使用反射光線和入射光平面求交或反射光線和入射光線求交計(jì)算物點(diǎn)坐標(biāo)信息;使用反射光線和入射光線獲取物點(diǎn)法線信息;2)采用徑向基插值法或梯度積分法對(duì)獲取的物點(diǎn)坐標(biāo)和法線信息進(jìn)行插值或梯度積分,獲取物點(diǎn)的精確三維信息。本發(fā)明測(cè)量速度快,非接觸,對(duì)高反射物體表面無(wú)損傷。
聲明:
“高反射物體表面三維測(cè)量方法和系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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