本發(fā)明公開了一種太赫茲器件用
碳納米管取向度測量裝置及方法。壓板布置在底板的上面,定向排列碳納米管陣列布置在基底,定向排列碳納米管陣列和基底共同布置在壓板和底板之間,且被壓板和底板壓緊在中間;壓板上面鉸接地安裝有頂板;頂板上布置有多個轉(zhuǎn)子電極,壓板上布置多個和定向排列碳納米管陣列接觸的定子電極,轉(zhuǎn)子電極上端連接電阻測量儀器的兩端,轉(zhuǎn)子電極下端穿過頂板后和壓板上的定子電極電連接。利用碳納米管的電學(xué)偏振性,通過簡單、快速和無損的方法獲取定向排列碳納米管陣列的取向度,解決了現(xiàn)有技術(shù)中通過光學(xué)、掃描電鏡等方式測量碳納米管陣列取向度存在的破損、時間長等問題。
聲明:
“太赫茲器件用碳納米管取向度測量裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)