本實(shí)用新型涉及太赫茲無損測量技術(shù)領(lǐng)域,提供了一種用于太赫茲時(shí)域光譜測量的裝置,包括安裝架、設(shè)置在安裝架的底部的樣品架、設(shè)置在安裝架上且分別位于樣品架兩側(cè)的兩組反光鏡組、分別設(shè)置在安裝架的兩相對(duì)側(cè)面上且與兩組反光鏡組一一對(duì)應(yīng)的兩個(gè)光電導(dǎo)天線,以及設(shè)置在安裝架的側(cè)面上的紅光校準(zhǔn)儀,其中一反光鏡組開設(shè)有與紅光校準(zhǔn)儀同軸的開孔。本實(shí)用新型通過設(shè)置安裝架、樣品架、反光鏡組、光電導(dǎo)天線和紅光校準(zhǔn)儀,使得裝置處于一個(gè)可視化的操作系統(tǒng);在裝置中的一個(gè)反射鏡上開設(shè)一個(gè)開孔,使得紅光可以通過小孔徑開孔,反射到各鏡面上,來校準(zhǔn)整個(gè)系統(tǒng)的光路,同時(shí)也可以確定樣品擺放的位置,進(jìn)而解決了光路搭建過程中的盲目性。
聲明:
“用于太赫茲時(shí)域光譜測量的裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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