本發(fā)明涉及一種聚乙烯及非金屬材質(zhì)X射線無損檢測領(lǐng)域用X射線密度像質(zhì)計,包括密度像質(zhì)計型號標(biāo)記區(qū)、密度像質(zhì)計標(biāo)識塊、密度像質(zhì)計識別區(qū);密度像質(zhì)計型號標(biāo)記區(qū)設(shè)置于密度像質(zhì)計標(biāo)識塊上,密度像質(zhì)計型號標(biāo)記區(qū)上標(biāo)記有密度像質(zhì)計型號、標(biāo)準(zhǔn)號,密度像質(zhì)計標(biāo)識塊固定于密度像質(zhì)計識別區(qū),密度像質(zhì)計識別區(qū)是由多種階梯狀且密度不同的聚乙烯材質(zhì)及非金屬材質(zhì)連接構(gòu)成。本發(fā)明拓展了X射線檢測領(lǐng)域的檢測范圍,將傳統(tǒng)上X射線無損檢測只能檢測金屬材質(zhì)發(fā)展到聚乙烯及非金屬材質(zhì)的X射線無損檢測領(lǐng)域,填補了X射線無損檢測對聚乙烯及非金屬材質(zhì)領(lǐng)域X射線密度檢測法的空白。
聲明:
“X射線密度像質(zhì)計” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)