本發(fā)明涉及中子射線照相并且可以用于細長放射性物品、主要是核燃料元件的檢查,并且還可用于被照射對象和未被照射對象的無損測試以便確定其內(nèi)部結(jié)構(gòu)和材料組成。本方法在于:將所檢查對象放置到保護容器(3)中;通過安裝座(5)將容器放置在機座(4)上并且使對象牢固地緊固在其中;將第一探測器(11)安裝在分度盤(7)中的凹槽(8)中;設(shè)置輻射方向與探測器之間的角度(+α);供應(yīng)中子束(1);將第二探測器(12)安裝在凹槽中;設(shè)置輻射方向與探測器之間的角度(?α);執(zhí)行照射;以及處理曝光膠片以獲得在角度±α處的圖像。一種用于實現(xiàn)用于測試物品的方法的裝置,其包括中子源、保護容器(3)和探測系統(tǒng),其另外包括機座(4),機座(4)上布置有呈可旋轉(zhuǎn)分度盤(7)形式的探測系統(tǒng),該探測系統(tǒng)帶有用于緊固中子探測器(11、12)的呈沿直徑的凹槽(8)形式的安裝座(5),分度盤被安裝成使得可圍繞平行于所檢查對象的軸線的軸線旋轉(zhuǎn)所設(shè)置角度,并且在其中具有當(dāng)分度盤相對于中子束(1)的方向旋轉(zhuǎn)角度±α
i時用于細長對象的通過的半圓形凹口(13)。
聲明:
“中子射線照相方法以及用于實現(xiàn)其的裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)