本發(fā)明適用于過(guò)渡金屬硫族化合物層數(shù)測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,提供了一種過(guò)渡金屬硫族化合物的層數(shù)確定方法,包括以下步驟:選取層數(shù)不同的15個(gè)檢測(cè)區(qū)域;獲取相同光強(qiáng)下與各個(gè)檢測(cè)區(qū)域的白光反射譜;根據(jù)各個(gè)白光反射譜確定每個(gè)檢測(cè)區(qū)域的第一反射峰強(qiáng)度和/或第二反射峰強(qiáng)度;獲取各個(gè)檢測(cè)區(qū)域的層數(shù);確定所有檢測(cè)區(qū)域的層數(shù)與第一反射峰強(qiáng)度和/或第二反射峰強(qiáng)度的對(duì)應(yīng)關(guān)系;根據(jù)對(duì)應(yīng)關(guān)系以及待檢測(cè)樣品的白光反射譜確定待檢測(cè)樣品的層數(shù)。本發(fā)明提供的過(guò)渡金屬硫族化合物的層數(shù)確定方法,能夠簡(jiǎn)單、快速、可靠且無(wú)損地高通量確定檢測(cè)區(qū)域的層數(shù)。
聲明:
“過(guò)渡金屬硫族化合物的層數(shù)確定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)