本發(fā)明公開了顯示模組異常定位方法、裝置、智能設(shè)備及存儲介質(zhì),所述方法包括:檢測接收到模擬空載信號;基于所述模擬空載信號,控制啟動設(shè)置在屏?xí)r序控制IC與源極驅(qū)動IC間的模擬空載電路;通過所述模擬空載電路,控制屏?xí)r序控制IC處于空載;檢測接收到檢測信號,輸出用于表示屏?xí)r序控制IC是否故障的檢測返回信號。與現(xiàn)有技術(shù)相比,通過在屏?xí)r序控制IC的輸出端與源極驅(qū)動IC的輸入端之間設(shè)置一模擬空載電路,使得在對顯示模組進(jìn)行異常定位時,無需破壞屏?xí)r序控制IC與源極驅(qū)動IC間的連接結(jié)構(gòu)即可判斷屏?xí)r序控制IC是否異常,并基于尚未受破壞的顯示模組,可進(jìn)一步檢測顯示模組其他結(jié)構(gòu)是否異常,實現(xiàn)對顯示模組的無損檢測,降低成本,優(yōu)化流程。
聲明:
“顯示模組異常定位方法、裝置、智能設(shè)備及存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)