本發(fā)明提供一種基于微波致熱的缺陷深度信息提取方法,屬于紅外無損檢測技術(shù)領(lǐng)域。該方法通過對材料進(jìn)行微波加熱,在恒定輸出功率下,材料達(dá)到了溫度平衡后,對材料進(jìn)行紅外溫度檢測;然后通過已知的材料電磁參數(shù)、輸出功率,結(jié)合電磁波的多層反射理論,完成對缺陷深度信息的提取。本方法對缺陷深度信息檢測更為精確,同時具有檢測方式簡便。
聲明:
“基于微波致熱的缺陷深度信息提取方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)