本發(fā)明涉及一種用于確定試樣表面附近區(qū)域(6;6a;6b;6c)中試樣(5;5a;5b;5c)的材料特性的裝置(1;1a;1b;1c)和方法,所述裝置具有用于照射試樣的至少一個表面區(qū)域(4;4a;4b;4c)的至少一個電磁輻射源(2;2a;2b;2c)以及用于檢測由表面區(qū)域發(fā)射的熱輻射(9;9a;9b)和/或用于檢測由試樣的表面區(qū)域(4;4a;4b;4c)反射的輻射(31)的檢測裝置(8;8a;8b;8c)。設(shè)有評估裝置(13;13a;13b;13c),方便地根據(jù)所發(fā)射的熱輻射(9;9a;9b)和/或所反射的輻射(31)測定待確定的材料特性。由此有利地實現(xiàn)了以特別可靠且無損的方式來確定材料特性。
聲明:
“用于確定試樣表面附近區(qū)域中試樣的材料特性的裝置和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)