本發(fā)明涉及無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域,提供了一種基于雙相控陣探頭B掃描圖像的三維重建方法,包括以下步驟:使用超聲相控陣雙探頭設(shè)備對(duì)待測(cè)工件進(jìn)行檢測(cè),得到數(shù)量相等且一一對(duì)應(yīng)的兩組B掃描圖像;將兩組圖像進(jìn)行灰度化、濾波操作后,分別截取相當(dāng)于工件一半厚度的圖像,進(jìn)行拼接處理;篩選拼接后的圖像中存在缺陷回波的圖像,通過(guò)二維軌跡判斷法,篩去噪聲;利用篩去噪聲的圖像進(jìn)行三維重建。本發(fā)明可在實(shí)際強(qiáng)噪聲工廠中,通過(guò)二維軌跡判斷篩選去除噪聲,增加對(duì)與噪聲較難分辨小缺陷的辨識(shí)度。此外,三維模型能夠精確顯示缺陷的空間信息,如缺陷的三維形狀以及在工件中的位置等,具有較高的可視性。
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“基于雙相控陣探頭B掃描圖像的三維重建方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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