本發(fā)明提供一種基于散射場信息的超聲蘭姆波層析成像方法,涉及超聲波無損檢測領(lǐng)域,所述方法包括步驟1:獲取待測試件缺陷的散射場數(shù)據(jù);步驟2:基于散射場數(shù)據(jù),利用缺陷重構(gòu)算法重構(gòu)待測試件缺陷的形狀和大小。本發(fā)明利用超聲蘭姆波與待測試件缺陷相互作用產(chǎn)生散射場數(shù)據(jù),基于散射場數(shù)據(jù),使用衍射層析投影定理重構(gòu)缺陷的形狀和大小。
聲明:
“基于散射場信息的超聲蘭姆波層析成像方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)