本發(fā)明公開了一種遠(yuǎn)場(chǎng)光學(xué)超分辨顯微方法,具體涉及對(duì)樣品表面微小結(jié)構(gòu)的光學(xué)超分辨顯微方法。本發(fā)明通過(guò)激光干涉測(cè)振儀測(cè)量不同微小樣品的振動(dòng)模態(tài),利用樣品表面微小結(jié)構(gòu)的本征振動(dòng)頻率差異,再配合亞納米二維位移掃描平移臺(tái),繪制出高分辨的空間位置、激勵(lì)頻率的振動(dòng)譜和像圖,從而實(shí)現(xiàn)超分辨顯微成像。由于該發(fā)明是利用樣品表面的微小結(jié)構(gòu)的振動(dòng)頻率差異來(lái)標(biāo)識(shí),而且微小結(jié)構(gòu)的振動(dòng)是采用激光激勵(lì)和激光檢測(cè),因此該方法具有對(duì)樣品無(wú)標(biāo)記、無(wú)損傷、無(wú)污染的特征。
聲明:
“遠(yuǎn)場(chǎng)光學(xué)超分辨顯微方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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