本發(fā)明公開了一種谷物種子凍傷表征及識(shí)別方法。將谷物種子置于不同條件下獲取不同凍傷情況結(jié)果;測定理化參數(shù),根據(jù)種皮和種胚的顯微特征情況,對(duì)谷物種子進(jìn)行凍傷表征分類;采集光譜數(shù)據(jù)并預(yù)處理;利用二維相關(guān)分析方法和波段提取方法對(duì)預(yù)處理光譜進(jìn)行處理獲得兩種特征波段確定最終特征波段;建立谷物種子的分類模型并進(jìn)行檢測識(shí)別。本發(fā)明可對(duì)凍傷谷物種子進(jìn)行表征并實(shí)現(xiàn)谷物種子凍傷情況的識(shí)別,對(duì)于谷物種子損傷的表征直觀、清楚,具有明確谷物種子損傷機(jī)理,并實(shí)現(xiàn)無損測定和分類效果好等優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“谷物種子凍傷表征及識(shí)別方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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