本發(fā)明公開了一種判別順式與反式幾何異構(gòu)體的近紅外光譜分析方法,先在一定的測量條件下采集幾何異構(gòu)體各順式樣品和反式樣品的近紅外光譜,所得光譜不進行預處理或進行化學計量學預處理,從所得光譜數(shù)據(jù)中選擇建模光譜范圍,對所選光譜范圍的數(shù)據(jù)進行降維后,采用化學計量學方法建立并驗證順式與反式幾何異構(gòu)體的判別模型;然后取未知順式與反式的幾何異構(gòu)體樣品,按照前述相同方法采集近紅外光譜并進行光譜數(shù)據(jù)的多步驟處理,最后應用所建模型進行順式與反式幾何異構(gòu)體的判別。本發(fā)明基于幾何異構(gòu)體的近紅外光譜,結(jié)合化學計量學技術(shù),判別順式與反式幾何異構(gòu)體,具有準確、簡便、快速、無損的優(yōu)點。
聲明:
“判別順式與反式幾何異構(gòu)體的近紅外光譜分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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