本發(fā)明提供了一種智能電表計量
芯片晶振負載電容缺陷定位方法和裝置,其中方法包括集待定位的智能電表計量芯片晶振負載電容的CT圖像;對CT圖像進行分析,確定智能電表計量芯片晶振負載電容存在的缺陷類型和缺陷位置。該方法基于CT技術利用X射線穿透陶瓷電容樣品的工作原理屬于無損測試,可以避免破壞陶瓷電容樣品以及樣品內的缺陷,對陶瓷電容樣品進行了有效地保護;同時使其內部缺陷部位的定位分析前較好的避免的外界不必要的機械應力和熱應力的干擾,從而能夠準確的定位到陶瓷電容的內部缺陷;同時CT技術拍照比傳統(tǒng)機械研磨速度更快,可以節(jié)省較多時間,能夠提高效率,該方法簡單、易操作,具有較強的適用性。
聲明:
“智能電表計量芯片晶振負載電容缺陷定位方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)