一種液晶面板測試模組及一種液晶面板失效模式分析方法,其中液晶面板測試模組包含:驅(qū)動電路、測試電路以及若干個開關(guān)。其中驅(qū)動電路包含:若干個信號輸入線及若干個信號輸出線,信號輸出線包含第一信號輸出線群組、第二信號輸出線群組和第三信號輸出線群組;測試電路包含第一測試信號線、第二測試信號線和第三測試信號線,分別與第一信號輸出線群組、第二信號輸出線群組和第三信號輸出線群組電連接;以及若干個開關(guān)分別位于第一測試信號線、第二測試信號線和第三測試信號線與每一信號輸出線之間。
聲明:
“液晶面板測試模組及液晶面板失效模式分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)