本發(fā)明提供一種元器件失效分析專家系統(tǒng)中失效分析流程構建方法及系統(tǒng),所述方法包括以下步驟:采集各門類電子元器件的失效信息;所述失效信息包括:失效分析方法、失效現(xiàn)象、失效模式、失效機理、失效環(huán)境;構建各失效信息之間的關聯(lián)關系;以所述失效模式為觸發(fā)點,根據(jù)各失效信息之間的關聯(lián)關系構建元器件失效分析專家系統(tǒng)中的失效分析流程。本發(fā)明的元器件失效分析專家系統(tǒng)中失效分析流程構建方法及系統(tǒng),滿足了在元器件失效分析專家系統(tǒng)中構建不同門類電子元器件失效分析流程的需求,使失效分析專家系統(tǒng)成為一種具有邏輯判斷功能、可輔助完成實際失效分析的電子手段。
聲明:
“元器件失效分析專家系統(tǒng)中失效分析流程構建方法及系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)