本發(fā)明涉及一種用于超級電容器失效分析的數(shù)據(jù)庫及超級電容器的失效分析方法。所述用于超級電容器失效分析的數(shù)據(jù)庫包括:(1)基于大量數(shù)據(jù)概括的由N個超級電容器組成電容器組中失效幾率和失效原因之間的一一對應關(guān)系,N≥100;(2)超級電容器在不同使用工況下建立的性能與循環(huán)次數(shù)或性能和使用時間之間的第一函數(shù)關(guān)系;(3)超級電容器在不同荷電狀態(tài)或/和不同存儲時間下與其外在表觀之間的第二函數(shù)關(guān)系。
聲明:
“用于超級電容器失效分析的數(shù)據(jù)庫及超級電容器的失效分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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