本申請涉及一種失效分析方法、裝置、計算機設備和存儲介質,計算機設備獲取待測失效器件的至少一個測試數據;然后將測試數據輸入到深度學習模型中進行失效分析處理,獲取與每個測試數據關聯(lián)的失效節(jié)點信息;失效節(jié)點信息包括測試數據關聯(lián)的上級失效事件節(jié)點和下級失效事件節(jié)點,下級失效事件節(jié)點為上級失效事件節(jié)點的備選失效機理;最后根據每個測試數據關聯(lián)的失效節(jié)點信息,構建各個失效事件節(jié)點之間的父子關系,并根據父子關系確定最底層的失效事件節(jié)點為待測失效器件的目標失效機理。采用上述方法可以提升失效分析的效率和準確率。
聲明:
“失效分析方法、裝置、設備和存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)