本申請公開了一種功率器件的失效分析方法,包括:去除集成有功率器件的晶圓的正面的第一金屬層;通過失效點定位機臺對正面失效區(qū)域進行定位后,對正面失效區(qū)域進行標記,得到正面失效標記;通過失效點定位機臺在背面查找到正面失效標記,對背面失效區(qū)域進行定位,背面失效區(qū)域是正面失效區(qū)域在背面的對應(yīng)區(qū)域;通過失效點定位機臺對背面失效區(qū)域進行標記,得到背面失效標記;根據(jù)背面失效標記對背面失效區(qū)域進行失效分析。本申請實現(xiàn)了對晶圓的背面進行失效分析,提高了失效分析的準確度。
聲明:
“功率器件的失效分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)