本發(fā)明涉及一種失效運(yùn)算放大器表面態(tài)缺陷的檢測(cè)方法,包括以下步驟:S1:分別對(duì)正常運(yùn)算放大器和失效運(yùn)算放大器加電,獲取兩個(gè)運(yùn)算放大器均處于正常工作狀態(tài)下的端口間的初始漏電流值;S2:對(duì)兩個(gè)運(yùn)算放大器持續(xù)加電,判斷兩個(gè)運(yùn)算放大器端口間的漏電流值的變化,若正常運(yùn)算放大器端口間的漏電流值無明顯變化,失效運(yùn)算放大器端口間的漏電流值逐漸增加,則執(zhí)行S3;S3:對(duì)失效運(yùn)算放大器進(jìn)行高溫貯存,若失效運(yùn)算放大器端口間的漏電流值恢復(fù)到初始漏電流值,執(zhí)行S4;S4:定位并基于失效運(yùn)算放大器中的漏電單元,分析并確定運(yùn)算放大器的失效是否由表面態(tài)缺陷所致。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明能夠準(zhǔn)確定位運(yùn)算放大器的失效是否由于表面態(tài)缺陷所致。
聲明:
“失效運(yùn)算放大器表面態(tài)缺陷的檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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