一種紅外焦平面陣列
芯片貯存失效率、可靠度的檢測方法,其貯存失效率方法包括:測量紅外焦平面陣列芯片的樣品的像元個數(shù);將樣品進行分組;測量貯存前每組樣品的初始有效像元率,將每組樣品在一組高溫貯存應力下進行貯存,測量貯存后每組樣品的最終有效像元率;根據樣品的最終有效像元率和初始有效像元率的差值確定該組樣品在對應高溫貯存應力下的像元失效率;根據各像元失效率計算樣品貯存退化的激活能值,并根據激活能值計算常溫貯存應力下的加速系數(shù);根據加速系數(shù)和像元個數(shù)計算樣品的像元在常溫條件、預設置信水平下的貯存失效率上限值,將貯存失效率上限值確定為紅外焦平面陣列芯片的貯存失效率。本方案降低了檢測成本。
聲明:
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