本發(fā)明公開(kāi)了一種預(yù)充繼電器失效檢測(cè)電路。本發(fā)明中電源給負(fù)載供電,電源的兩端并聯(lián)有后級(jí)電容,在后級(jí)電容的充電回路上設(shè)置有預(yù)充電阻,所述的預(yù)充電阻兩端并聯(lián)設(shè)置預(yù)充繼電器,所述控制電路輸出預(yù)充繼電器控制信號(hào),通過(guò)隔離驅(qū)動(dòng)電路控制預(yù)充繼電器的開(kāi)關(guān);所述的采樣比較電路用于檢測(cè)預(yù)充電阻兩端的電壓差值,控制電路通過(guò)隔離輸出電路接收采樣比較電路的輸出信號(hào),該輸出信號(hào)指示預(yù)充繼電器是否失效,所述的預(yù)充繼電器失效包括繼電器線圈未吸合或未可靠吸合。本發(fā)明采用低成本的比較器
芯片和隔離光耦器件組成檢測(cè)電路,有效降低了成本;對(duì)比軟件檢測(cè)的方法,本發(fā)明檢測(cè)準(zhǔn)確度高,適用更多應(yīng)用場(chǎng)景。
聲明:
“預(yù)充繼電器失效檢測(cè)電路” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)