本申請公開了一種存儲器
芯片的失效單元檢測修復方法,包括:對存儲器芯片進行檢測;若存在失效單元,則獲取所檢測到的第一失效單元的失效行地址線/失效列地址線;設置失效行地址線/失效列地址線,使其能夠被識別為有效行地址線/有效列地址線;對經(jīng)過設置處理后的存儲器芯片進行檢測;確定是否還存在其他失效單元;若是則獲取第一失效單元所位于的列地址線/行地址線,利用一列地址冗余線/行地址冗余線替換失效列地址線/失效行地址線,轉向對存儲器芯片進行檢測;否則利用一行地址冗余線/列地址冗余線替換失效行地址線/失效列地址線。本申請的方法使得對失效單元的檢測修復效率更高,且準確率更高,耗時少,降低了工藝時間成本。
聲明:
“存儲器芯片的失效單元檢測修復方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)