本發(fā)明公開了一種晶振時鐘失效檢測方法,包括以下步驟:時鐘整形模塊將外部晶振所產(chǎn)生的晶振時鐘由正弦波整形成方波;晶振頻率偵測模塊檢測晶振時鐘的頻率是否在預(yù)設(shè)范圍內(nèi),若不在預(yù)設(shè)范圍內(nèi),則產(chǎn)生異常信號;接收到異常信號后,時鐘安全管理模塊將
芯片系統(tǒng)的工作時鐘由晶振時鐘切換成內(nèi)部RC時鐘。根據(jù)本發(fā)明的晶振時鐘失效檢測方法,能夠快速準(zhǔn)確地檢測到外部晶振是否停止振蕩,且能夠檢測晶振時鐘的頻率是否過快或者過慢,并在檢測到晶振時鐘異常時,及時將芯片系統(tǒng)的工作時鐘切換成內(nèi)部RC時鐘,避免芯片系統(tǒng)運(yùn)行紊亂。
聲明:
“晶振時鐘失效檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)