本發(fā)明提供了一種用于LED失效檢測(cè)的研磨件，包括主體；主體具有在豎直方向上相正對(duì)設(shè)置的研磨面和觀察面；在研磨面上設(shè)置有若干個(gè)凸起，凸起為棱錐結(jié)構(gòu)或三棱柱結(jié)構(gòu)；在凸起為棱錐結(jié)構(gòu)時(shí)，每一個(gè)凸起的底面位于上方，每一個(gè)凸起的尖端朝向下方且每一個(gè)凸起的尖端上設(shè)置有研磨粒，每一個(gè)凸起的側(cè)面為傾斜面；在凸起為三棱柱結(jié)構(gòu)時(shí)，每一個(gè)凸起的其中一個(gè)側(cè)面位于上方，每一個(gè)凸起的其余側(cè)面為傾斜面，每一個(gè)凸起的其中一條棱朝向下方且每一條位于最下方的棱上設(shè)置有研磨粒；每一個(gè)傾斜面至觀察面之間至少存在一條沿豎向布置的透光通道，透光通道中充滿折射介質(zhì)。該研磨件可供外部的設(shè)備在研磨件使用時(shí)對(duì)研磨面下的LED芯片表面進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察，具有良好的實(shí)用性。