本發(fā)明提供一種集成電路失效位置檢查用裝置，包括檢查臺(tái)，支撐架，熱發(fā)射顯微鏡，可調(diào)節(jié)存放架結(jié)構(gòu)，可調(diào)供電架結(jié)構(gòu)，可調(diào)節(jié)監(jiān)測(cè)架結(jié)構(gòu)和顯示屏，所述的檢查臺(tái)的下部螺栓安裝有支撐架；所述的檢查臺(tái)的上部左側(cè)安裝有熱發(fā)射顯微鏡；所述的熱發(fā)射顯微鏡的下部設(shè)置有可調(diào)節(jié)存放架結(jié)構(gòu)；所述的檢查臺(tái)的中上部安裝有可調(diào)供電架結(jié)構(gòu)。本發(fā)明T型旋轉(zhuǎn)桿的垂直段膠接有橡膠絕緣套，有利于在使用時(shí)方便使用者握住T型旋轉(zhuǎn)桿在定位槽內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng)，同時(shí)方便對(duì)夾裝在彈簧接線夾內(nèi)的二極管進(jìn)行翻轉(zhuǎn)，實(shí)現(xiàn)全方位的檢測(cè)。