一種基于失效物理的中頻對(duì)數(shù)放大器的壽命預(yù)測(cè)方法,它有六大步驟:一、對(duì)中頻對(duì)數(shù)放大器類電子產(chǎn)品失效模型的失效信息以及產(chǎn)品結(jié)構(gòu)工藝的器件信息進(jìn)行分析,確定潛在的失效機(jī)理及其失效物理模型;二、確定影響失效機(jī)理的環(huán)境應(yīng)力;三、通過加速老化試驗(yàn)修正推導(dǎo)后的失效物理模型中涉及的相關(guān)參數(shù);四、借助環(huán)境應(yīng)力傳感器對(duì)產(chǎn)品經(jīng)歷的壽命周期內(nèi)的環(huán)境應(yīng)力進(jìn)行監(jiān)測(cè)和記錄;五、利用已經(jīng)確定的失效物理模型,計(jì)算不同應(yīng)力水平下的預(yù)計(jì)失效前時(shí)間即TTF,根據(jù)損傷定義,分別計(jì)算產(chǎn)品在每個(gè)應(yīng)力水平下由于不同失效機(jī)理而造成的壽命損傷;六、對(duì)不同失效機(jī)理下的產(chǎn)品剩余壽命進(jìn)行預(yù)測(cè),并對(duì)中頻對(duì)數(shù)放大器進(jìn)行可靠性分析,得出其失效率和可靠度。
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“基于失效物理的中頻對(duì)數(shù)放大器的壽命預(yù)測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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